HAST高加速壽命測試，是通過對樣品施加高溫高濕以及高壓的方式，實現(xiàn)對產(chǎn)品加速老化的一種試驗方法。廣泛用于PCB、IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業(yè)相關之產(chǎn)品作加速老化壽命試驗，用于評估產(chǎn)品密封性、吸濕性及老化性能。

HAST高加速壽命測試是主要用于評估在濕度環(huán)境下產(chǎn)品或者材料的可靠性，是通過在高度受控的壓力容器內(nèi)設定和創(chuàng)建溫度，濕度，壓力，的各種條件來完成，這些條件加速了水分穿透外部保護性塑料包裝并將這些應力條件施加到材料本體或者產(chǎn)品內(nèi)部。

相對于傳統(tǒng)的高溫高濕測試，如85°C/85％RH，HAST增加了容器內(nèi)的壓力，使得可以實現(xiàn)超過100℃條件下的溫濕度控制，能夠加速溫濕度的老化效果（如遷移，腐蝕，絕緣劣化，材料老化等），大大縮短可靠性評估的測試周期，節(jié)約時間成本。HAST高加速老化測試已成為某些行業(yè)的標準，特別是在PCB、半導體、太陽能、顯示面板等產(chǎn)品中，作為標準高溫高濕測試（如85C/85%RH-1000小時）的快速有效替代方案。

 

HAST高壓加速壽命老化箱示意圖
 

HAST高加速壽命測試的流程一般包括以下步驟：

1.樣品準備：選擇需要進行測試的樣品，并確保樣品的尺寸、結構、材料等符合測試要求。

2.試驗前準備：對試驗箱進行檢查和維護，確保其正常運轉，并按照標準要求設置測試參數(shù)，如溫度、濕度、時間等。

3.樣品安裝：將待測試的樣品按照要求安裝在試驗箱內(nèi)，確保樣品的穩(wěn)定性和安全性。

4.開始測試：啟動試驗箱，開始進行高加速壽命測試。在測試過程中，試驗箱會模擬高溫高濕環(huán)境，對樣品進行加速老化。

5.測試過程監(jiān)控：在測試過程中，需要對樣品的性能和狀態(tài)進行實時監(jiān)控，記錄測試數(shù)據(jù)。

6.測試結果分析：根據(jù)測試數(shù)據(jù)對樣品的性能和可靠性進行分析和評估，找出潛在的問題和缺陷。

7.后續(xù)處理：根據(jù)測試結果對樣品進行相應的處理，如修復、改進或報廢等。